[发明专利]一种X射线荧光探测装置有效
| 申请号： | 201610465363.1 | 申请日： | 2016-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN105891246B | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 丁娇娇;母海亮;王雅西 | 申请（专利权）人： | 北京至一恒盛技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 李进 |
| 地址： | 100000 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线荧光探测装置，其特征在于，所述装置包括支架，设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统，以及信息分析与控制系统。其中，所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置，用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光；所述平移转动系统，包括平移机构和转动机构，所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移；所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。本发明提供的X射线荧光探测装置，可以满足各种形态样品的测试并极大地提高了测试结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 探测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光探测装置，其特征在于，所述装置包括支架，设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统，以及信息分析与控制系统，其中，所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置，用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光；所述平移转动系统，包括平移机构和转动机构，所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移；所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动；所述平移机构包括设置在所述支架上的一对滑轨、设置在所述滑轨上的第一组滑块和平移控制电机；所述X射线发生系统的两端分别固定在第一组滑块上，所述平移控制电机控制第一组滑块进而带动所述X射线发生系统沿所述滑轨平移。
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