[发明专利]含硅膜的成膜方法以及成膜装置有效
申请号: | 201610465904.0 | 申请日: | 2016-06-23 |
公开(公告)号: | CN106282966B | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 佐藤润;菊地宏之;村田昌弘;三浦繁博 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/40 | 分类号: | C23C16/40;C23C16/34;C23C16/455;H01L21/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种含硅膜的成膜方法和成膜装置。在该含硅膜的成膜方法中,向形成于基板的表面的凹坑填充含硅膜,该含硅膜的成膜方法包含第1成膜循环,所述第1成膜循环包括:第1硅吸附工序,在该第1硅吸附工序中,向所述基板供给含硅气体,使所述含硅气体吸附于所述凹坑内;硅蚀刻工序,在该硅蚀刻工序中,向所述基板供给蚀刻气体,对吸附于所述凹坑内的所述含硅气体的硅成分的一部分进行蚀刻;以及第1含硅膜堆积工序,在该第1含硅膜堆积工序中,向所述基板供给与所述硅成分反应的反应气体,使该反应气体与在蚀刻后以吸附于所述凹坑内的状态残留的所述硅成分反应而生成反应生成物,在所述凹坑内堆积含硅膜。 | ||
搜索关键词: | 含硅膜 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1.一种含硅膜的成膜方法,其中,所述含硅膜的成膜方法包含第1成膜循环,且至少执行1次该第1成膜循环,所述第1成膜循环包括:第1硅吸附工序,在该第1硅吸附工序中,向基板供给含硅气体,使含硅气体吸附在形成于所述基板的表面的凹坑内;硅蚀刻工序,在该硅蚀刻工序中,向所述基板供给蚀刻气体,在不使用等离子体的情况下对吸附于所述凹坑内的所述含硅气体的硅成分的一部分进行蚀刻;以及第1含硅膜堆积工序,在该第1含硅膜堆积工序中,向所述基板供给与所述硅成分反应的反应气体,使该反应气体与在蚀刻后以吸附于所述凹坑内的状态残留的所述硅成分反应而生成反应生成物,使含硅膜堆积于所述凹坑内。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的