[发明专利]一种过零检测电路在审
申请号: | 201610467013.9 | 申请日: | 2016-06-23 |
公开(公告)号: | CN105974185A | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 方健;朱弼文;辛世杰;杨舰;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R19/175 | 分类号: | G01R19/175 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于模拟集成电路技术领域,具体的说涉及一种高压过零检测电路。本发明的电路与传统的电路相比,采用两个耗尽型高压NMOS管,其余全部为普通管,不仅实现了高压交流电的过零点检测。而且因为其结构简单且易于集成,大大节省了面积与成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 电路 | ||
【主权项】:
一种过零检测电路,包括比较器电路、逻辑输出电路和反馈回路;所述比较器由第一二极管D1、第二二极管D2、第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6构成;其中,第一二极管D1的正极接外部交流输入信号,其负极通过第一电阻R1后接第一NMOS管N1的漏极;第一NMOS管N1的源极连接第一PMOS管P1的栅极与第三电阻R3的一端和第六电阻R6的一端;第二二极管D2的正极接外部交流输入信号,其负极通过第二电阻R2后接第二NMOS管N2的漏极,第二NMOS管N2的源极连接第二PMOS管P2的栅极与第四电阻R4的一端和第五电阻R5的一端;第一PMOS管P1的漏极接第五电阻R5的另一端,第二PMOS管P2的漏极接第六电阻R6的另一端;第一NMOS管N1的栅极、第二NMOS管N2的栅极、第三电阻R3的另一端和第四电阻R4的另一端均接地;所述逻辑输出电路由两部分构成,第一部分由第一NPN管Q1、第九电阻R9、第十一电阻R11、第一反相器INV1、第二反相器INV2、第三反相器INV3、第四反相器INV4组成;第二部分由第二NPN管Q2、第十电阻R10、第十二电阻R12、第五反相器INV5、第六反相器INV6、第七反相器INV7、第八反相器INV8组成;其中,第一PMOS管P1的源极与第一NPN管Q1的基极、第九电阻R9的一端以及第三NMOS管N3的漏极连接;第二PMOS管P2的源极与第二NPN管Q2的基极、第十电阻R10的一端以及第四NMOS管N4的漏极连接;第一NPN管N1的发射极与第九电阻R9的另一端连接,第一NPN管N1的集电极与第十一电阻R11的一端,与第一反相器INV1的正极,与第三反相器INV3的正极连接;第一反相器INV1的负极与第二反相器INV2的正极连接,第十一电阻R11的另一端接电源,第二反相器INV2的负极为输出端口;第二NPN管N2的发射极与第十电阻R10的另一端连接,第二NPN管N2的集电极与第十二电阻R12的一端,与第五反相器INV5的正极,与第七反相器INV7的正极连接;第五反相器INV5的负极与第六反相器INV6的正极连接,第十二电阻R12的另一端接电源,第六反相器INV6的负极为输出端口;所述反馈回路由两部分构成,第一部分由第三反相器INV3、第四反相器INV4、第三NMOS管N3、第七电阻R7构成;第二部分由第七反相器INV7、第八反相器INV8、第四NMOS管N4、第八电阻R8构成;其中,第三反相器INV3的负极接第四反相器INV4的正极,第四反相器INV4的负极接第三NMOS管N3的栅极,第三NMOS管N3的源极接第七电阻R7的一端,第七电阻R7的另一端接地;其中第七反相器INV7的负极接第八反相器INV8的正极,第八反相器INV8的负极接第四NMOS管N4的栅极,第四NMOS管N4的源极接第八电阻R8的一端,第八电阻R8的另一端接地。
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