[发明专利]检测大轴接地碳刷接触不良的方法及设备在审

专利信息
申请号: 201610471195.7 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN105974241A 公开(公告)日: 2016-09-28
发明(设计)人: 鲜霄;魏良;刘玉刚;王新江 申请(专利权)人: 中国神华能源股份有限公司;北京国华电力有限责任公司;浙江国华浙能发电有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/20
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 金旭鹏;肖冰滨
地址: 100011 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及电力技术领域,公开了一种检测大轴接地碳刷接触不良的方法及设备,其可有效判别大轴碳刷接触不良的情况。该用于检测大轴接地碳刷接触不良的设备包括:注入电源,用于向惠斯通电桥输入电压,该惠斯通桥以注入电阻R1、注入电阻R2、电容Cr以及电容Cx作为四个臂,其中电容Cr包含转子绕组与大轴接地碳刷之间的分布电容及注入回路附加电容,电容Cx具有与所述电容Cr相同的电容值,注入电阻R1及注入电阻R2的阻值相同;电压测量装置,用于测量电压UCB及电压UDB;以及处理器,用于在所述电压UCB大于所述电压UDB且两者之差大于一预设值时,确定所述大轴接地碳刷接触不良。
搜索关键词: 检测 接地 碳刷 接触 不良 方法 设备
【主权项】:
一种用于检测大轴接地碳刷接触不良的设备,其特征在于,该设备包括:注入电源,用于向惠斯通电桥输入电压,该惠斯通桥以注入电阻R1、注入电阻R2、电容Cr以及电容Cx作为四个臂,其中电容Cr包含转子绕组与大轴接地碳刷之间的分布电容及注入回路附加电容,该电容Cr的电容值为转子绕组与大轴接地碳刷之间的分布电容及注入回路附加电容之和的等效值,电容Cx具有与所述电容Cr相同的电容值,注入电阻R1及注入电阻R2的阻值相同;电压测量装置,用于测量电压UCB及电压UDB,其中UCB表示电容Cr两端的电压,UDB表示电容Cx两端的电压;以及处理器,用于在所述电压UCB大于所述电压UDB且两者之差大于一预设值时,确定所述大轴接地碳刷接触不良。
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