[发明专利]电光学装置以及电子设备有效

专利信息
申请号: 201610471769.0 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN105976763B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 藤田伸 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G09G3/3233 分类号: G09G3/3233
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种电光学装置,使不易受到起因于数据线(114)的电位变动的噪声的影响,而对流过发光元件(150)的电流进行控制。具有相互交叉的扫描线(112)以及数据线(114)、与上述交叉对应地设置的像素电路(110)以及屏蔽配线(81a、81b)。像素电路(110)具备:发光元件(150);对流过发光元件(150)的电流进行控制的晶体管(140);以及在晶体管(140)的栅极结点(g)和数据线(114)之间,根据供给至扫描线(112)的扫描信号被控制导通状态的晶体管(130),屏蔽配线(81a、81b)在俯视时设置于数据线(114)和晶体管(140)之间。
搜索关键词: 光学 装置 以及 电子设备
【主权项】:
1.一种电光学装置,其特征在于,所述电光学装置具有:扫描线,其沿着第一方向设置;第一层间绝缘膜,其以覆盖所述扫描线的方式设置;第二层间绝缘膜,其以覆盖所述第一层间绝缘膜的方式设置;第三层间绝缘膜,其以覆盖所述第二层间绝缘膜的方式设置;数据线,其沿着与所述第一方向不同的第二方向设置在所述第三层间绝缘膜的上方;像素电路,其同所述扫描线与所述数据线的交叉对应地设置;以及屏蔽配线,所述像素电路具备:发光元件;第一晶体管,其控制流过所述发光元件的电流;以及第二晶体管,其连接在所述第一晶体管的栅极与所述数据线之间,并且根据被供给至所述扫描线的扫描信号来控制导通状态,所述屏蔽配线的一部分被设置在所述第二层间绝缘膜与所述第三层间绝缘膜之间,并且在俯视图中被设置在所述数据线与所述第一晶体管之间。
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