[发明专利]一种隔离开关触头形状的优化方法有效

专利信息
申请号: 201610472600.7 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN106126819B 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 张辑;陈丽安;刘成;郑丽娟 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 代理人: 何家富
地址: 361000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种隔离开关触头形状的优化方法。其特征在于先采用ANSYS Maxwell平台对隔离开关进行静电场仿真分析,然后对隔离开关触指进行参数化分析,再编写最小二乘法曲线拟合程序处理参数化取得的数值从而求取电场极值点,求得的电场极值点的倒角值即为最优倒角值。按最优倒角值对隔离开关触指进行倒角可获得最终的优化后的隔离开关触头形状,从而实现隔离开关触头结构的优化,进而优化隔离开关结构,以达到降低隔离开关电场强度进而降低隔离开关绝缘故障的效果。
搜索关键词: 一种 隔离 开关 形状 优化 方法
【主权项】:
1.一种隔离开关触头形状的优化方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1,隔离开关触头建模:隔离开关触头建立3D模型;步骤S2,隔离开关触头静电场仿真分析:对步骤S1导入的模型进行仿真,隔离开关电场计算是以有限元为理论基础,其仿真过程如下:S21,模型预处理:将建立好的触头模型文件导入ANSYS软件中,处理形成有限元分析模型,并画出圆柱形的空气域,所画空气域要比触头本身的半径大五倍;S22,添加激励:在触头上设置为高电位,空气域为零电势,从而得到电场强度分布;S23,求解及后处理:取多个截面的电场强度分布;步骤S3,隔离开关触指参数化分析:通过上述步骤S2的仿真分析,得到电场强度最大点的坐标在触指上;步骤S4,对触指进行参数化倒角,并编写最小二乘法的曲线拟合程序求取电场极值点,其过程如下:S41,先对触指进行倒角,再将倒角的数值设为参数t,设定参数t的范围;同时在触指上取若干个顶点,分别求解计算这若干个点的场强随倒角大小变化的曲线;S42,由S41中的曲线图分别取这若干个点的最小电场强度值及对应的倒角值;S43,采用MATLAB的最小二乘法曲线拟合程序分析处理S42中所取得的数值,得到一个曲线的正值最低点,即电场极值点,此点的倒角值即为最优倒角值;步骤S5,根据上述模型,及倒角,计算获得最终的优化后的隔离开关触头形状。
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