[发明专利]芯片单粒子效应探测方法及装置有效
| 申请号： | 201610480725.4 | 申请日： | 2016-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN106199392B | 公开（公告）日： | 2019-02-12 |
| 发明（设计）人： | 李慧云;邵翠萍;刘玢玢 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/311 | 分类号： | G01R31/311 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置，其中方法包括：将待测芯片放入测试机台，触发待测芯片产生单粒子效应；利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器，形成随机观测矩阵；向待测芯片输入测试向量，获得待测芯片的输出测试向量，根据输出测试向量获得错误总数向量；对错误总数向量进行压缩感知信号重构，确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 粒子 效应 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片单粒子效应探测方法，其特征在于，包括：将待测芯片放入测试机台，触发待测芯片产生单粒子效应；将待测芯片的扫描寄存器插入扫描链，生成测试向量；利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器，形成随机观测矩阵；向待测芯片输入测试向量，获得待测芯片的输出测试向量，根据输出测试向量获得错误总数向量；对错误总数向量进行压缩感知信号重构，确定待测芯片内部敏感区域。
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