[发明专利]一种硅片ALD镀膜方法和装置在审
申请号: | 201610489818.3 | 申请日: | 2016-06-24 |
公开(公告)号: | CN106048560A | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 许佳平;蒋方丹;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 314416 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅片ALD镀膜方法以及镀膜装置,其中,方法,包括以下步骤:步骤1,对硅片进行第一次镀膜,所述第一次镀膜的镀膜厚度为x;步骤2,将所述硅片水平转动90°;步骤3,对所述硅片进行第二次镀膜。所述第二次镀膜的镀膜厚度为h‑x;其中,h为对所述硅片的预定镀膜的镀膜厚度,0<x<h。所述硅片ALD镀膜方法以及镀膜装置,通过对硅片进行两次镀膜,并且在第一次镀膜和第二次镀膜之间将硅片水平转动90°,这样使得第一次镀膜时的硅片上下边缘处的未镀膜区在第二次镀膜时能够被正常镀膜,增大了硅片上的镀膜区域,提高了硅片的镀膜效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 ald 镀膜 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种硅片ALD镀膜方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,对硅片进行第一次镀膜,所述第一次镀膜的镀膜厚度为x;步骤2,将所述硅片水平转动90°;步骤3,对所述硅片进行第二次镀膜。所述第二次镀膜的镀膜厚度为h‑x;其中,h为对所述硅片的预定镀膜的镀膜厚度,0<x<h。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的