[发明专利]一种异质结阵列基紫外探测器及其制作方法在审
申请号: | 201610490299.2 | 申请日: | 2016-06-28 |
公开(公告)号: | CN106057960A | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 兰建龙 | 申请(专利权)人: | 兰建龙 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/0296;H01L31/032;H01L31/18;B82Y30/00;B82Y15/00 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 温旭 |
地址: | 545600 广西壮族自治区柳州市*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种异质结阵列基紫外探测器及其制备方法,所述探测器包括基底、导电薄膜,所述的导电薄膜上有作为紫外光吸收层的Sm2O3@ZnO异质结阵列和至少一个N型欧姆电极,所述的Sm2O3@ZnO异质结阵列上有至少一个P型欧姆电极;所述的Sm2O3@ZnO异质结阵列为ZnO纳米管阵列和填充于ZnO纳米管内的Sm2O3纳米线构成。由于本发明的核心结构为由ZnO纳米管阵列和贯穿ZnO纳米管的Sm2O3纳米线构成的异质结阵列,可以充分提高光生载流子的利用率,具有外量子效率和灵敏度高、体积小巧等诸多优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 异质结 阵列 紫外 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种异质结阵列基紫外探测器,包括基底(1)、导电薄膜(2),所述的导电薄膜(2)位于基底(1)上;所述的基底(1)是玻璃基底(1)、金属基底(1)或硅基底(1),其特征在于:所述的导电薄膜(2)上有作为紫外光吸收层的Sm2O3@ZnO异质结阵列(3)和至少一个N型欧姆电极(5),所述的Sm2O3@ZnO异质结阵列(3)上有至少一个P型欧姆电极(4);所述的Sm2O3@ZnO异质结阵列(3)为ZnO纳米管(301)阵列和填充于ZnO纳米管(301)内的Sm2O3纳米线(302)构成,所述的ZnO纳米管(301)阵列由生长方向垂直于导电薄膜(2)的ZnO纳米管(301)平行排列构成,所述的每一根ZnO纳米管(301)内均生长有一根Sm2O3纳米线(302)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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