[发明专利]一种音叉晶体封焊工艺在审
申请号: | 201610494367.2 | 申请日: | 2016-06-30 |
公开(公告)号: | CN106064280A | 公开(公告)日: | 2016-11-02 |
发明(设计)人: | 王金涛;杨勇;叶秀忠 | 申请(专利权)人: | 随州泰华电子科技有限公司 |
主分类号: | B23K31/02 | 分类号: | B23K31/02;B23K37/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 441300 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种音叉晶体封焊工艺,包括以下步骤:(1)预操作:清洁待封器件表面杂物确保器件表面彻底清洁,再将待封器件置于80~100℃环境下烘烤1~1.5小时,降低器件腔内湿气;(2)氮气焊接:将待封器件所处空间注入氮气,在氮气环境下对器件长边进行封焊操作;(3)真空焊接:将待封器件所处空间抽真空,在真空环境下对器件短边进行封焊操作;(4)在设定好的检测环境中对器件进行捡漏操作,合格产品进入下一步流程。本发明通过变换器件长短边的封焊顺序,可以大大降低封焊时产生的气体,将封焊过程对器件电气特性的影响降到最低。 | ||
搜索关键词: | 一种 音叉 晶体 焊工 | ||
【主权项】:
一种音叉晶体封焊工艺,包括以下步骤:(1)预操作:清洁待封器件表面杂物确保器件表面彻底清洁,再将待封器件置于80~100℃环境下烘烤1~1.5小时,降低器件腔内湿气;(2)氮气焊接:将待封器件所处空间注入氮气,在氮气环境下对器件长边进行封焊操作;(3)真空焊接:将待封器件所处空间抽真空,在真空环境下对器件短边进行封焊操作;(4)在设定好的检测环境中对器件进行捡漏操作,合格产品进入下一步流程。
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