[发明专利]芯片测试系统在审
| 申请号： | 201610494850.0 | 申请日： | 2016-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN105974301A | 公开（公告）日： | 2016-09-28 |
| 发明（设计）人： | 万利剑 | 申请（专利权）人： | 成绎半导体技术（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201000 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片测试系统，该系统用于测试芯片的S参数，该系统包括射频信号产生模块、RF功率检波模块、直流电压读取模块，所述射频信号产生模块用于产生芯片测试用的射频信号，所述RF功率检波模块用于将芯片产生的RF信号转换为直流电压，所述直流电压读取模块用于读取RF功率检波模块产生的直流电压，并将直流电压换算为S参数。本发明能够实现低成本的芯片测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片测试系统，该系统用于测试芯片的S参数，该系统包括射频信号产生模块、RF功率检波模块、直流电压读取模块，所述射频信号产生模块用于产生芯片测试用的射频信号，所述 RF功率检波模块用于将芯片产生的RF信号转换为直流电压，所述直流电压读取模块用于读取RF功率检波模块产生的直流电压，并将直流电压换算为S参数。
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