[发明专利]集成电路结构及其电性连接方法有效

专利信息
申请号: 201610497093.2 申请日: 2016-06-29
公开(公告)号: CN106328652B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: B·A·安德松;E·J·诺瓦克 申请(专利权)人: 格罗方德半导体公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L21/8244
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 英属开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明涉及集成电路结构及其电性连接方法,其实施例提供集成电路(integrated circuit;IC)结构以及电性连接多个IC结构的方法。依据本发明的实施例的一种IC结构可包括:第一导电区;与该第一导电区横向隔开的第二导电区;形成于该第一导电区上方并与其接触的第一垂直取向半导体鳍片;形成于该第二导电区上方并与其接触的第二垂直取向半导体鳍片;以及与各该第一垂直取向半导体鳍片及该第二导电区接触的第一栅极,其中,该第一栅极包括:与该第一垂直取向半导体鳍片接触的基本水平的部分,以及与该第二导电区接触的基本垂直的部分。
搜索关键词: 集成电路 结构 及其 连接 方法
【主权项】:
1.一种集成电路(IC)结构,包括:第一导电区;第二导电区,与该第一导电区横向隔开;第一垂直取向半导体鳍片,形成于该第一导电区上方并与其接触;第二垂直取向半导体鳍片,形成于该第二导电区上方并与其接触;第一栅极,与各该第一垂直取向半导体鳍片及该第二导电区接触,其中,该第一栅极包括:基本水平的部分,与该第一垂直取向半导体鳍片接触,及基本垂直的部分,与该第二导电区接触;以及第二栅极,与各该第二垂直取向半导体鳍片及该第一导电区接触,其中,该第二栅极包括:基本水平的部分,与该第二垂直取向半导体鳍片接触,以及基本垂直的部分,与该第一导电区接触。
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