[发明专利]相关干涉仪测向方法及装置在审
| 申请号： | 201610497897.2 | 申请日： | 2016-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN106199503A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 郭方 | 申请（专利权）人： | 成都中安频谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14;G01S3/782 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王术兰 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种相关干涉仪测向方法及装置，其中方法包括：在当前阵列中确定第一基线和第二基线，根据第一基线的长度和空间位置以及第二基线的长度和空间位置确定入射电磁波的第一入射角度范围；对第一入射角度范围内的角度进行合理性判别，剔除第一入射角度范围内不满足合理性要求的角度，剔除后的第一入射角度范围作为第二入射角度范围；根据第一基线的长度和空间位置以及第二基线的长度和空间位置计算当前阵列的相位差模板；根据相位差模板在第二入射角度范围内确定入射电磁波的入射角度。通过本发明中的相关干涉仪测向方法及装置，能够将二维相关干涉仪测向时的大范围空域搜索变为仅对部分角度的搜索，达到减小计算量的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 相关 干涉仪 测向 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种相关干涉仪测向方法，其特征在于，所述方法包括：在当前阵列中确定第一基线和第二基线，根据所述第一基线的长度和空间位置以及所述第二基线的长度和空间位置确定入射电磁波的第一入射角度范围；对所述第一入射角度范围内的角度进行合理性判别，剔除所述第一入射角度范围内不满足合理性要求的角度，剔除后的所述第一入射角度范围作为第二入射角度范围；根据所述第一基线的长度和空间位置以及所述第二基线的长度和空间位置计算当前阵列的相位差模板；根据所述相位差模板在所述第二入射角度范围内确定所述入射电磁波的入射角度。
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