[发明专利]基于插值方法由几何中心位置判断层间轮廓线的方法有效
申请号: | 201610498874.3 | 申请日: | 2016-06-30 |
公开(公告)号: | CN106355558B | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 孙玉宁 | 申请(专利权)人: | 苏州爱因智能设备有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 姚姣阳 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于插值方法由几何中心位置判断层间轮廓线的方法,先在在不相邻的两层影像之上各勾画一个封闭的轮廓,分别定义为上层轮廓和下层轮廓;确定轮廓中心并判断两个几何中心是否分别在上、下层轮廓的内部;然后根据判断几何中心处于轮廓上的位置建立相应的对应点;基于各影像的sliceLocation进行线性插值,求得目标层的轮廓。本发明的有益效果主要体现在:根据几何中心所在位置的不同,使用不同的算法,既能克服基于角度建立对应点算法的不能处理凹形轮廓以及点不在轮廓内部的情况,也能解决基于距离最小值建立对应点算法当轮廓的差异较大时,无法得出较为合理的结果的难题。 | ||
搜索关键词: | 基于 方法 几何 中心 位置 断层 轮廓 | ||
【主权项】:
1.基于插值方法由几何中心位置判断层间轮廓线的方法,其特征在于:S1、勾画轮廓,在不相邻的两层影像之上各勾画一个封闭的轮廓,分别定义为上层轮廓和下层轮廓;S2、确定轮廓中心,分别计算确定上、下两层轮廓的几何中心;S3、判断中心,判断两个几何中心是否分别在上、下层轮廓的内部;S4、建立对应点,根据判断几何中心处于轮廓上的位置建立相应的对应点;S5、根据对应点求得目标层轮廓,基于各影像的sliceLocation进行线性插值,求得目标层的轮廓;所述S4中建立对应点包括如下步骤:S41、当上、下两层轮廓的几何中心均在轮廓内部时,在几何中心的基础上基于角度建立对应点;S42、当存在几何中心不在轮廓内部时,平移使两轮廓的几何中心重合后,基于轮廓点的位置建立对应点;所述S4建立对应点的方法为,当几何中心在轮廓的内部,基于几何中心将圆周等分,建立若干条直线,求得直线与轮廓的交点,找出轮廓上距该点最近的点作为对应点;对于起始层与终止层同一角度的直线,按上述方法选取的点作为对应点。
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