[发明专利]孤铜的检测方法及装置在审
申请号: | 201610499295.0 | 申请日: | 2016-06-29 |
公开(公告)号: | CN106199380A | 公开(公告)日: | 2016-12-07 |
发明(设计)人: | 潘明争;秦亮;李英俊 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 陈蕾 |
地址: | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开是关于孤铜的检测方法及装置,该方法包括:确定印刷电路板上的非核心元器件;判断摘除所述非核心元器件之后的所述印刷电路板是否会产生孤铜;在判断为会产生孤铜时,记录判断结果。应用本公开实施例,PCB通过确定PCB上的非核心元器件,并判断摘除非核心元器件之后的PCB是否会产生孤铜,并记录判断结果,能够为PCB的设计提供参考,避免在电路设计的后期因摘除了某一个或多个元器件而产生孤铜,或者在已经产生了孤铜的情况下,方便快捷的找出因摘除哪个或哪些元器件而产生了孤铜。 | ||
搜索关键词: | 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种孤铜的检测方法,其特征在于,包括:确定印刷电路板上的非核心元器件;判断摘除所述非核心元器件之后的所述印刷电路板是否会产生孤铜;在判断为会产生孤铜时,记录判断结果。
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