[发明专利]一种新型三维微波多芯片组件结构有效

专利信息
申请号: 201610499834.0 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN105977235B 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 赵永志;王绍东;王志强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/552;H01L25/16
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 郝伟
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种新型三维微波多芯片组件结构,涉及微波微电子封装领域。自下而上包括底层硅片、MMIC芯片、顶层硅片、ASIC芯片;底层硅片上腐蚀有芯片安装槽,并在表面电镀第一金属层,MMIC芯片通过导电胶层粘结在芯片安装槽底部,在MMIC芯片的上表面与底层硅片的上表面上依次生长有密封保护层、第二金属层、第一阻焊层,顶层硅片底部与底层硅片的芯片安装槽对应位置腐蚀有底部凹槽,底层硅片和顶层硅片对应位置均刻蚀有焊球凸点电极,顶层硅片的第三阻焊层刻蚀有金属电极,ASIC芯片焊接在顶层硅片的金属电极上。通过采用硅腔结构和苯并环丁烯二次布线,以圆片级方式完成三维微波多芯片组件的工艺生产,提高了生产效率。
搜索关键词: 一种 新型 三维 微波 芯片 组件 结构
【主权项】:
1.一种新型三维微波多芯片组件结构,其特征在于:自下而上包括底层硅片(1)、MMIC芯片(2)、顶层硅片(4)、ASIC芯片(6);所述底层硅片(1)上腐蚀有芯片安装槽,并在表面电镀第一金属层(11),MMIC芯片(2)通过导电胶层(10)粘结在芯片安装槽底部,且MMIC芯片(2)的上表面与底层硅片(1)的上表面在同一平面,在MMIC芯片(2)的上表面与底层硅片(1)的上表面上依次生长有密封保护层(9)、第二金属层(8)、第一阻焊层(7),所述顶层硅片(4)底部与底层硅片(1)的芯片安装槽对应位置腐蚀有底部凹槽(16),所述顶层硅片(4)下表面依次生长有第三金属层(12)、第二阻焊层(13);顶层硅片(4)上表面依次生长有第四金属层(14)、第三阻焊层(15);所述顶层硅片(4)内刻蚀有连通第四金属层(14)和第三金属层(12)的硅通孔(5),所述底层硅片(1)和顶层硅片(4)对应位置均刻蚀有焊球凸点电极(3),并通过焊料将底层硅片(1)和顶层硅片(4)对应位置的焊球凸点电极(3)焊接连接;所述顶层硅片(4)和所述焊球凸点电极(3)围成能够对所述MMIC芯片(2)进行单独电磁屏蔽的微腔,所述顶层硅片(4)的第三阻焊层(15)刻蚀有金属电极(17),ASIC芯片(6)焊接在顶层硅片(4)的金属电极(17)上。
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