[发明专利]一种高低温按键寿命测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201610505158.3 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN105938048B 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 王保成;向艳;袁烨;李静;吴科东 申请(专利权)人: 中航华东光电有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00;G01R31/327
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 项磊
地址: 241000 安徽省芜湖*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种高低温按键寿命测试装置及测试方法,包括高低温试验箱(1),其特征在于:所述高低温试验箱(1)内设有可摆动敲击待测按键(6)的测试杆(3),在所述高低温试验箱(1)外部设有可驱动所述测试杆(3)转动的驱动装置。此高低温按键寿命测试装置及测试方法,高效的实现了在不打开箱门的前提下完成高低温环境下的按键寿命测试,结构简单,适用范围广,操作方便快捷。
搜索关键词: 一种 低温 按键 寿命 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种高低温按键寿命测试装置,包括高低温试验箱(1),其特征在于:所述高低温试验箱(1)内设有可摆动敲击待测按键(6)的测试杆(3),在所述高低温试验箱(1)外部设有可驱动所述测试杆(3)转动的驱动装置;所述驱动装置包括水平布置的移动滑轨(8)及可沿所述移动滑轨(8)移动的移动滑杆(7),相当于一个二维移动平台,所述移动滑杆(7)连接推动杆(2),所述测试杆(3)通过连动杆(4)连接所述推动杆(2),以通过所述推动杆(2)运动带动所述测试杆(3)来回摆动。
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