[发明专利]一种基于多个光谱图像的配准方法以及装置有效
申请号: | 201610509928.1 | 申请日: | 2016-06-30 |
公开(公告)号: | CN106157306B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 杨健;付天宇;王涌天;李勤;范敬凡 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/30 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100081 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种基于多个光谱图像的配准方法以及装置。其中,所述方法包括:获取对同一物体成像得到的多个光谱图像;利用显著性分析技术对每一光谱图像进行显著性分析,得到与每一光谱图像对应的显著性图;根据显著性图分别对每一光谱图像进行区域划分,得到感兴趣区域和非感兴趣区域;利用FAST特征点检测算法提取感兴趣区域和非感兴趣区域的特征点;基于特征点与感兴趣区域和非感兴趣区域的位置关系,利用EOH特征描述算子对特征点进行特征描述,得到特征点的EOH特征;根据EOH特征对多个光谱图像的特征点进行匹配,从而实现多光谱图像的配准。通过本发明,不仅能避免多个光谱图像对同一物体成像结果不同引起的误匹配,而且还能改善多个光谱图像配准速度慢的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光谱 图像 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于多个光谱图像的配准方法,其特征在于,所述方法包括:获取对同一物体成像得到的多个光谱图像;利用显著性分析技术对所述多个光谱图像中的每一光谱图像进行显著性分析,得到多个与所述每一光谱图像对应的显著性图;根据所述显著性图分别对所述每一光谱图像进行区域划分,得到所述每一光谱图像的感兴趣区域和非感兴趣区域;利用FAST特征点检测算法提取所述每一光谱图像的感兴趣区域和非感兴趣区域的特征点;基于所述特征点与所述感兴趣区域和所述非感兴趣区域的位置关系,利用改进的EOH特征描述算子对所述特征点进行特征描述,得到特征点的EOH特征;根据所述EOH特征对所述多个光谱图像的特征点进行匹配,从而实现多个光谱图像的配准;若特征点位于感兴趣区域内,则改进的EOH特征描述算子对应的窗宽为:min(d(p,NROI));其中,NROI表示非感兴趣的区域,min(d(p,NROI))为位于感兴趣区域内的特征点p到非感兴趣区域的最小距离;若特征点位于非感兴趣区域,则改进的EOH特征描述算子对应的窗宽为:
其中,
表示光谱图像第i个感兴趣区域在与光谱图像对应的显著性图上的均值,ROI表示感兴趣的区域,ROIi表示光谱图像的第i个感兴趣区域,min(d(p,ROIi))表示位于非感兴趣区域内的特征点p到光谱图像第i个感兴趣区域的最小距离,N为光谱图像的感兴趣区域的个数。
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