[发明专利]电子设备测试装置的通用测试工装及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201610510265.5 申请日: 2016-07-01
公开(公告)号: CN106019021B 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 马彦恒;李刚;尹园威;刘新海 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军工程大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 石家庄科诚专利事务所(普通合伙) 13113 代理人: 张红卫
地址: 050000 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明提供了一种电子设备测试装置的通用测试工装及其测试方法,所述电子设备测试装置的通用测试工装包括能够建立被测电子设备仿真模型和仿真被测地址你设备正常与故障信号的客户端、能够获取客户端的参数并对数据进行分析形成控制信号的服务器、接收服务器的控制产生各种正常或故障物理信号的仪器设备,所述客户端与服务器通过网络相连接,服务器的控制信号输出端通过网络连接仪器设备的信号输入端,所述仪器设备的信号输出端通过测试适配器与用于测试仪器设备传送出的物理信号的测试设备相连接。本发明通用性强、成本低、便于推广,且对于所有被测电子设备都适用。本发明适用于对任意被测电子设备进行功能、性能测试。
搜索关键词: 电子设备 测试 装置 通用 工装 及其 方法
【主权项】:
1.一种电子设备测试装置的通用测试工装的测试方法,基于电子设备测试装置的通用测试工装完成,其特征在于:它包括依次进行的以下步骤:一)工作人员利用客户端建立被测电子设备的电路仿真模型,然后分别仿真运行正常或故障情况下的被测电子设备电路,并保存各个被测点的电信号仿真数据;二)服务器通过网络从客户端获取电信号仿真数据,并对数据进行分析处理,产生能控制仪器设备所需的各种参数;所述步骤二),包括依次进行的以下步骤:①服务器通过网络从客户端载入仿真后的正常或故障信号的仿真数据文件,读取文件中各个测试点的数据,判断读取的数据的信号类型,所述步骤①中读取的数据的信号类型包括周期信号与非周期信号;②根据读取数据的信号类型进行相应的处理,并计算仪器设备需要产生的信号幅度和衰减量,所述步骤②中对于周期信号的处理为:计算周期信号的频率、周期相关参数,并根据信号的幅度和仪器设备所能产生信号的幅度极限计算仪器设备需要产生的信号幅度和衰减量,而对于非周期信号的处理为:只计算仪器设备需要产生的信号幅度和衰减量;③根据数据的信号类型选择需要下发给仪器设备的测试点信号,并将测试点信号下发给仪器设备,所述步骤③中对于周期信号的处理为截取一个周期的测试点信号下发给仪器设备,而对于非周期信号则需要下发测试点的所有数据给仪器设备;三)仪器设备通过网络接收服务器传送的参数后产生各种正常或故障的物理信号并通过测试适配器传送出去;四)测试设备通过测试适配器接收仪器设备传出的各种正常或故障的物理信号后对该物理信号进行相应测试,最终得到被测电子设备的功能、性能。
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