[发明专利]一种RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法在审

专利信息
申请号: 201610513930.6 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN107563110A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 肖继军;邹文秀 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 薛云燕
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,包括如下步骤用材料工作站打开RDX晶体信息文件,把文件中所有的N‑O单键改为虚双键;建立3种超胞模型,沿不同晶面切割各个超胞模型,得到切割模型;建立正三十烷烃分子链;将构建好的正三十烷烃分子链逐步压缩并进行分子动力学模拟,直至正三十烷烃分子链的密度达到理论值;在所得切割模型的上部设置真空层,并用压缩后的正三十烷烃分子链填充该真空层,建立与该切割模型对应的复合体系模型;在各模型中心处移除6个分子得到含不同孔径的RDX与石蜡的复合缺陷模型;对RDX缺陷晶体及其复合体系的模型退火,并对收集的轨迹进行分析。本发明研究不同晶面所得的复合体系模型的界面性能,方法简单安全、效果好、成本低。
搜索关键词: 一种 rdx 石蜡 缺陷 晶体 复合 体系 模拟 方法
【主权项】:
一种RDX与石蜡缺陷晶体复合体系的模拟方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,用材料工作站打开RDX的晶体信息文件,把文件中所有的N‑O单键改为虚双键;步骤2,建立(2×2×3)、(1×1×3)和(2×2×2)超胞模型,沿着(100)和(110)晶面切割(2×2×3)超胞模型,沿着(120)和(210)晶面切割(1×1×3)超胞模型,沿着(111)晶面切割(2×2×2)超胞模型,得到切割模型;步骤3,建立正三十烷烃分子链,将构建好的4条正三十烷烃分子链逐步压缩并进行分子动力学模拟,直至正三十烷烃分子链的密度达到理论值;步骤4,在步骤2所得切割模型的上部设置真空层,并用压缩后的正三十烷烃分子链填充该真空层,建立与该切割模型对应的复合体系模型;步骤5,用Materials Studio确定RDX模型及其与石蜡复合模型的球心,在球心处移除6个分子,得到含不同孔径的RDX缺陷晶体及其复合体系的模型;步骤6,对RDX缺陷晶体及其复合体系的模型退火,并对收集的轨迹进行分析。
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