[发明专利]一种微克量级质量的实时测量装置及其测量方法在审
| 申请号： | 201610518814.3 | 申请日： | 2016-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN106197625A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 吕翔;陈剑;李江;刘佩进 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G01G3/12 | 分类号： | G01G3/12 |
| 代理公司： | 陕西增瑞律师事务所 61219 | 代理人： | 张瑞琪 |
| 地址： | 710072 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微克量级质量的实时测量装置，包括安装平台，安装平台的上表面设置有非接触式位移传感器，安装平台上方悬空设置有称重弹性片，紧邻称重弹性片的下表面连接有探测目标块，探测目标块的中心轴线、非接触式位移传感器的中心轴线与称重弹性片的中心位置重合。本发明还公开了一种微克量级质量的实时测量装置的测量方法，解决了现有技术中无法对微克量级质量进行高频率和高精度实时测量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微克 量级 质量 实时 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种微克量级质量的实时测量装置，其特征在于，包括安装平台(7)，所述安装平台(7)的上表面设置有非接触式位移传感器(5)，所述安装平台(7)上方悬空设置有称重弹性片(3)，紧邻所述称重弹性片(3)的下表面连接有探测目标块(2)，所述探测目标块(2)的中心轴线、所述非接触式位移传感器(5)的中心轴线与所述称重弹性片(3)的中心位置重合；所述称重弹性片(3)的上表面、且与所述探测目标块(2)中心轴线重合的位置处用于放置待测目标，所述待测目标由于自重使所述称重弹性片(3)向下产生位移，所述非接触式位移传感器(5)用于采集所述位移信息，并通过所述位移信息以计算所述待测目标的质量。
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