[发明专利]一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置有效
| 申请号： | 201610519685.X | 申请日： | 2016-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN106226465B | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 郭峰 | 申请（专利权）人： | 上海泽泉科技股份有限公司;上海乾菲诺农业科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200062 上海市普陀区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置，该方法包括S1测量第一测定光源至叶片一面之间的入射光的强度；S2测量第一测定光源透过叶片一面后出射光的强度；S3测量第二测定光源至叶片另一面之间的入射光的强度；S4测量第二测定光源透过叶片背面另一面后出射光的强度；S5根据S1‑S4计算获得所述叶片接收到的实际光照强度。本发明不仅能够满足对叶片双面测定，还能够准确反映叶片的实际受光强度，进而提高测量的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 准确 测定 双面 叶片 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种准确测定双面受光叶片光强的方法，其特征在于，包括：S1测量第一测定光源至叶片一面之间的入射光的强度；S2测量第一测定光源透过叶片一面后出射光的强度；S3测量第二测定光源至叶片另一面之间的入射光的强度；S4测量第二测定光源透过叶片另一面后出射光的强度；S5根据S1‑S4计算获得所述叶片接收到的实际光照强度；所述叶片实际光照强度为所述叶片平均光照强度。
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