[发明专利]一种测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201610519876.6 | 申请日： | 2016-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN106226614B | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 刘颖;刘楠;王鑫;张晓萍;王耀东;李福腾;唐洁 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试系统及其测试方法，该测试系统包括：具有测试信号端的测试电路，以及与测试信号端连接的测试版图；测试版图具有呈矩阵排列的多个测试点；其中，至少部分测试点存在寄生电容；测试点用于在与探针接触时，使探针采集到测试信号端上的测试信号。由于至少部分测试点存在寄生电容，探针可以选择性地与测试点进行接触，优化了测试信号的采集过程，可以在一定程度上保证测试信号的电平真实度，使采集图形和实际图形更接近，采集效果较佳，节约测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，其特征在于，包括：具有测试信号端的测试电路，以及与所述测试信号端连接的测试版图；所述测试版图具有呈矩阵排列的多个测试点；其中，至少部分测试点存在寄生电容；所述测试点用于在与探针接触时，使所述探针采集到所述测试信号端上的测试信号。
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