[发明专利]发光二极管移送器有效
| 申请号： | 201610532492.8 | 申请日： | 2016-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN107104061B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 金旻首 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/683;H01L21/67;H01L21/677 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 刘灿强;尹淑梅 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种发光二极管移送器，包括：头主体部，能够旋转，并具有用于拾取衬底基板上的发光二极管的至少一个拾取部；检测部，与所述头主体部相隔，并具有对应于所述拾取部的位置处的接触部和相邻于所述接触部的光检测元件；线性驱动部，用于使所述头主体部和所述检测部中的至少一个进行线性移动，以使贴附于所述拾取部的所述发光二极管接触于所述接触部；控制器，基于与所述发光二极管发射的光强度对应的所述光检测元件的输出而测量所述发光二极管的光特性，并根据测量出的所述光特性而计算即将布置所述发光二极管的显示基板上的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 移送 | ||
【主权项】：
一种发光二极管移送器，包括：头主体部，能够旋转，并具有用于拾取衬底基板上的发光二极管的至少一个拾取部；检测部，与所述头主体部相隔，并具有对应于所述拾取部的位置处的接触部和相邻于所述接触部的光检测元件；线性驱动部，用于使所述头主体部和所述检测部中的至少一个进行线性移动，以使贴附于所述拾取部的所述发光二极管接触于所述接触部；以及控制器，基于与所述发光二极管发射的光强度对应的所述光检测元件的输出而测量所述发光二极管的光特性，并根据测量出的所述光特性而计算即将布置所述发光二极管的显示基板上的坐标。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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