[发明专利]一种DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法在审
| 申请号： | 201610532504.7 | 申请日： | 2016-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN106169311A | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 王帆;黄华 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 李宏德 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明一种DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法，包括如下步骤，步骤1，针对DRAM晶圆测试流程中的任意功能测试项，给每个功能测试项分配一个变量，变量与功能测试项一一对应；步骤2，根据测试需求，对变量在晶圆测试开始后一次性赋值，控制是否捕获对应测试项的失效地址；步骤3，在执行功能测试项并通过地址失效寄存器AFM记录对应的失效地址后，根据当前测试项以及当前测试项的前一个测试项的变量赋值状况，控制是否读取地址失效寄存器AFM中的累积失效信息，并生成临时文件；步骤4，通过对生成的临时文件之间失效地址信息的比对，剔除掉重复的信息，最终生成当前测试项的失效地址文件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dram 测试 精确 捕获 失效 地址 方法 | ||
【主权项】：
一种DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法，其特征在于，包括如下步骤，步骤1，针对DRAM晶圆测试流程中的任意功能测试项，给每个功能测试项分配一个变量，变量与功能测试项一一对应；步骤2，根据测试需求，对变量在晶圆测试开始后一次性赋值，控制是否捕获对应测试项的失效地址；步骤3，在执行功能测试项并通过地址失效寄存器AFM记录对应的失效地址后，根据当前测试项以及当前测试项的前一个测试项的变量赋值状况，控制是否读取地址失效寄存器AFM中的累积失效信息，并生成临时文件；步骤4，通过对生成的临时文件之间失效地址信息的比对，剔除掉重复的信息，最终生成当前测试项的失效地址文件。
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