[发明专利]半导体存储装置及输入数据的验证方法有效
| 申请号： | 201610533929.X | 申请日： | 2016-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN107154275B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 小嶋英充 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体存储装置及输入数据的验证方法，能够对从外部端子导入内部的数据进行验证。本发明的半导体存储装置具备输入或输出数据的外部输入/输出端子、存储器阵列(110)以及页面缓冲器/读出电路(170)。页面缓冲器/读出电路(170)存储从外部输入/输出端子输入的输入数据，所存储的输入数据可编程至存储器阵列(110)中。进而，半导体存储装置具备比较电路(132)，该比较电路(132)对存储于页面缓冲器/读出电路(170)中的输入数据与从页面缓冲器/读出电路(170)读出的输入数据进行比较。据此，本发明技术方案能够验证输入数据是否被正确存储于数据存储部件中。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 输入 数据 验证 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体存储装置，其特征在于包括：外部端子；存储器阵列；数据存储部件，存储从所述外部端子输入的输入数据，并能够将所存储的输入数据编程至所述存储器阵列；以及比较部件，对从所述外部端子存储于所述数据存储部件中的输入数据、与从所述数据存储部件读出的输入数据进行比较。
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