[发明专利]鳍式场效晶体管装置与形成鳍式场效晶体管装置的方法有效
申请号: | 201610534560.4 | 申请日: | 2016-07-08 |
公开(公告)号: | CN106653833B | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 张简旭珂;洪奇成;曾鸿辉 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种鳍式场效晶体管装置与形成鳍式场效晶体管装置的方法。鳍式场效晶体管装置包含设置在第一半导体鳍片上的n型栅极结构,其中n型栅极结构包含有设置在第一高介电常数介电层上的n型功函数金属层。n型功函数金属层包含有钛铝合金,其中钛对铝的原子比实质介于1至3之间。鳍式场效晶体管装置还包含设置在第二半导体鳍片上的p型栅极结构,其中p型栅极结构含有设置在第二高介电常数介电层上的p型功函数金属层。p型功函数金属层包含氮化钛,其中钛对氮的原子比实质介于1:0.9至1:1.1之间。 | ||
搜索关键词: | 鳍式场效 晶体管 装置 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效晶体管装置,其特征在于,包含:一半导体基材;一第一半导体鳍片,在该半导体基材上;以及一n型栅极结构,位于该第一半导体鳍片上,其中该n型栅极结构包含:一第一初始层,位于该第一半导体鳍片上;一第一高介电常数介电层,位于该第一初始层上并被一第一栅极间隙壁所包围;以及一n型功函数金属层,设置在该第一高介电常数介电层上,该n型功函数金属层包含一钛铝合金,其中钛对铝的原子比介于1至3,该n型功函数金属层的二表面含有低于10原子百分比的氧浓度;一第一阻挡金属层设置在该n型功函数金属层上;以及一第一金属填充层,周边包围有该第一阻挡金属层。
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