[发明专利]一种小角X射线散射的双模型拟合方法及系统有效
| 申请号： | 201610535005.3 | 申请日： | 2016-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN107589136B | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 海洋;朱才镇;付民;赵宁;徐坚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所;深圳大学 |
| 主分类号： | G01N23/201 | 分类号： | G01N23/201 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 刘元霞;张祖萍 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种小角X射线散射的双模型拟合方法，包括：获取步骤：获得被分析对象的散射强度实验图谱；建模步骤：根据散射强度实验图谱的特征构建双模型；解析步骤：调整各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型中的各可调参数，使得各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型相加后得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小，即可解析出各模型的参数。本发明还提出了一种小角X射线散射的双模型拟合系统。本发明为利用小角X射线散射进行有效观测材料介观尺度结构的无损检测提供了更好的数据支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 小角 射线 散射 双模 拟合 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种小角X射线散射的双模型拟合方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：获取步骤：获得被分析对象的散射强度实验图谱；建模步骤：根据散射强度实验图谱的特征构建双模型，具体为：所述被分析对象的散射体系具有各向同性散射体和取向散射体这两种类型的散射体，选取各向同性散射体构建各向同性散射体的散射强度计算公式模型，选取取向散射体构建取向散射体的散射强度计算公式模型；其中，各向同性散射体的散射强度计算公式模型为球状模型，取向散射体的散射强度计算公式模型为棒状模型；解析步骤：调整各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型中的各可调参数，使得各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型相加后得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小，即可解析出各模型的参数。
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