[发明专利]无损检测设备的自动校准有效
| 申请号： | 201610536698.8 | 申请日： | 2016-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN106352910B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | T·M·福尔摩斯;J·R·科勒戈尔德;G·E·乔治森 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G01N29/30;G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵志刚;董巍 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于自动校准无损检测仪器的方法。根据一些实施例，该方法包括：(a)确定在测试对象的测试对象坐标系统中的第一组坐标，第一坐标表示测试对象表面上的目标位置；(b)将校准文件存储在无损检测仪器的存储器中，校准文件包含校准数据，校准数据为结构数据的函数，结构数据表示在包含目标位置的区域中的测试对象的三维结构；(c)使用校准文件中的校准数据校准无损测试仪器；以及(d)使用所述校准过的无损检测仪器询问目标位置。 | ||
| 搜索关键词： | 无损 检测 设备 自动 校准 | ||
【主权项】：
一种用于自动校准无损检测仪器的方法，其包括：(a)确定在所述测试对象的测试对象坐标系统中的第一组坐标，所述第一坐标表示所述测试对象的表面上的目标位置；(b)将校准文件存储在所述无损检测仪器的存储器中，所述校准文件包含校准数据，所述校准数据为结构数据的函数，所述结构数据表示在包含所述目标位置的区域中的所述测试对象的三维结构；以及(c)使用所述校准文件中的所述校准数据校准所述无损测试仪器。
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