[发明专利]一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法有效

专利信息
申请号: 201610537802.5 申请日: 2016-07-08
公开(公告)号: CN106053965B 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 阎照文;刘伟;李兵;苏东林 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R35/00
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法:1:获取不同类型的辐射源的电磁场探头测试电磁场强度矩阵Fi;2:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真,获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh1;3:对比矩阵Fi和Fieh1,确定仿真模型。4:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真,获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh0。5:对比矩阵Fieh1和Fieh0;两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。本发明得到的数据可对工程中电磁场探头测试的数据进行修正,提高电磁场探头测试结果的可信度,保证仿真过程中建模的准确度,保证结果数据只受到是否存在探头的影响。
搜索关键词: 一种 通过 改变 辐射源 类型 研究 电磁场 探头 扰动 方法
【主权项】:
1.一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法,其特征在于,该方法包括有以下步骤:第一步:获取电磁场探头测试电磁场强度矩阵Fi:设置不同类型的辐射源,在观察平面Pz上随机选取M个观察点进行测量,测量得到电磁场辐射强度按照先后顺序用矩阵Fi(i=1,2,…)表示,其中Fi表示第i种辐射源被探头测得的场强度矩阵,该矩阵有1×M个元素;第二步:获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh1:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真,观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的,得到辐射强度矩阵Fieh1,其中上标eh1表示有探头情况下的仿真结果,下标i表示不同类型的辐射源,该矩阵有1×M个元素;第三步:对比矩阵Fi和Fieh1:通过对比Fi和Fieh1进行判断仿真建模的拟合程度,确定仿真模型;第四步:获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh0:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真,观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的,得到辐射强度矩阵Fieh0,其中上标eh0表示无探头情况下的仿真结果,下标i表示不同类型的辐射源,该矩阵有1×M个元素;第五步:对比矩阵Fieh1和Fieh0:通过对比Fieh1和Fieh0可以得到第i种辐射源的电磁场分布由于电磁场探头的引入而产生的微扰,两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。
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