[发明专利]一种用于分布式天线架构的M2M系统的信号检测方法有效
申请号: | 201610549133.3 | 申请日: | 2016-07-12 |
公开(公告)号: | CN106211042B | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
发明(设计)人: | 陈明;杨照辉 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H04W4/00 | 分类号: | H04W4/00;H04W24/00;H04W84/18;H04B17/309;H04B17/318 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于分布式天线架构的M2M系统的信号检测方法,本发明的方法考虑了每个传感器的时钟与标准时间有微小偏差,加上不同传感器的信号到达分布式天线单元的距离不同,天线单元收到不同传感器的信号时,有微小的时间差,根据提出的帧结构设计,可以通过导频估算出时延和信道衰落。此外,根据导频估算出的时延和信道衰落,利用基于最大比合并的部分连续干扰消方法来对传感器节点的数据进行检测,实现的复杂度低。相比于传统的检测方法,本发明的方法由于考虑了时延,信号的检测精度更高。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 分布式 天线 架构 m2m 系统 信号 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于分布式天线架构的M2M系统的信号检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:S1、每一传感器节点按照先传导频再传数据的帧结构,向N个分布式天线发送数据,N个分布式天线再将收集到的数据发送给基站;其中帧结构中的导频序列包含3个符号,即(1,‑1,0);S2、基站根据接收到的数据进行码片单倍采样得到N个数据向量,根据数据向量采用滑动窗法计算每个传感器的时延和信道衰落;S3、基于计算的时延和信道衰落,利用基于最大比合并的部分连续干扰消方法检测出每一传感器的发送数据;其中,述步骤S2具体包括步骤:S21、基站根据接收到的N个信号进行码片单倍采样得到采样数据r1,...,rN;S22、记rn的前3G位数据为dn,取dn的第l位到2G+l‑1位数据与码序列(ck,‑ck)相乘积再求和得到S'kn;其中,ck表示扩频码,k=1,...,K,l=1,...,G+1,n=1,...,N,K为传感器的个数,G为扩频增益;S23、根据S'kn得到传感器k的导频数据滑动相关后求和的最大值为
S24、根据Skn和S'kn计算得到传感器k的信道估计值
和时延估计值
其中,
Tc是扩频码片周期。
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