[发明专利]一种相位校准方法及装置有效
申请号: | 201610552140.9 | 申请日: | 2016-07-13 |
公开(公告)号: | CN107645770B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 姜伟鹏;刘永俊;邢志浩 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04W64/00 | 分类号: | H04W64/00;H04B17/309 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 冯艳莲 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种相位校准方法及装置,用于解决现有技术存在的不同次测量得到的CSI相位变化较大的问题。该方法包括:获取m次测量得到n个载波的信道状态信息CSI相位;分别针对m次测量的各个载波的CSI相位进行相位解缠;分别获取解缠后的每次测量得到的每个载波的CSI相位与对应在第s次测量得到的所述每个载波的CSI相位的相位差;所述第s次测量为m次测量中的任意一次;基于得到的各个相位差的线性特征,对所述相位差进行线性拟合得到时间偏移差和相位偏移差,所述时间偏移差作为斜率,所述相位偏移差作为偏移参数;基于所述时间偏移差以及相位偏移差得到校准后的m次测量的n个载波的CSI相位。 | ||
搜索关键词: | 一种 相位 校准 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种相位校准方法,其特征在于,包括:获取m次测量得到n个载波的信道状态信息CSI相位;分别针对m次测量的各个载波的CSI相位进行相位解缠;分别获取解缠后的每次测量得到的每个载波的CSI相位与对应在第s次测量得到的所述每个载波的CSI相位的相位差;所述第s次测量为m次测量中的任意一次;基于得到的各个相位差的线性特征,对所述相位差进行线性拟合得到时间偏移差和相位偏移差,所述时间偏移差作为斜率,所述相位偏移差作为偏移参数;基于所述时间偏移差以及相位偏移差得到校准后的m次测量的n个载波的CSI相位。
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