[发明专利]一种氰根离子的快速检测方法有效
| 申请号： | 201610552529.3 | 申请日： | 2016-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN106092993B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 杨荣华;卿志和;侯丽娜;朱栎璇;杨盛 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人： | 袁靖 |
| 地址： | 410114 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种氰根离子的快速检测方法。通过对DNA‑铜纳米颗粒(DNA‑CuNPs)与荧光染料分子光学相互作用的研究，我们发现CuNPs能够高效熄灭DNA嵌入性染料EBMVC‑B的荧光，并且CuNPs能够被氰根离子(CN‑)快速刻蚀，实现荧光恢复，该过程可以在几秒钟内完成；实现氰根离子的快速荧光分析检测。结果表明，该方法具有专一性高，灵敏度好，操作简便，经济实用等优点；特别是检测速度快，可以克服由于CN‑半衰期短、而复杂前处理过程或长检测时间带来的误差；实现了实际水样中CN‑的检测和可食性植物组织中CN‑的荧光成像分析。因此，该发明方法具有原始创新性、良好的社会价值和应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种氰根离子的快速检测方法，其特征在于，在双链DNA序列上嵌入EBMVC‑B染料、并原位合成铜纳米颗粒，荧光熄灭，构成复合纳米探针；在加入氰根离子之后，铜纳米颗粒被快速刻蚀，EBMVC‑B的荧光恢复，在几秒钟内完成，实现氰根离子的快速荧光分析检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙理工大学，未经长沙理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610552529.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于改进的主成分追踪的工业过程监测方法及应用
- 下一篇：一种防腐包覆施工工艺
