[发明专利]基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法

摘要

基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法，涉及天线测试。包括以下步骤：1)搭建天线测试系统，待测阵列天线需与发射天线处于同一水平面；2)测试各天线单元，得到各单元原始的相位方向图测试数据；3)利用光程差校正公式对各单元原始的相位方向图测试数据进行光程差校正，得到初次校正的相位方向图；4)利用光程差校正算法得到阵列天线相位总体一致性的均方根误差最小时参数d₀、Δ及θ₀的值；5)计算各单元修正参数后的相位方向图及各单元的相位均方根误差。不需要为每个单元天线挪动阵列位置的情况下直接测量多个单元天线的相位方向图。对测量误差具有较好的抑制作用。具有很好的校正性能。

主权项

1.基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法，其特征在于包括以下步骤：1)搭建天线测试系统，待测阵列天线需与发射天线处于同一水平面；2)测试各天线单元，得到各单元原始的相位方向图测试数据；3)利用光程差校正公式对各单元原始的相位方向图测试数据进行光程差校正，得到初次校正的相位方向图；所述光程差校正公式为：其中：为测试天线到第i个单元的实际距离，为第i个单元在辅助线的投影点到测试天线的距离；φi(θ)：第i个单元的相位响应测试数据；φic(θ)：第i个单元光程差校正后的相位响应；θ：阵列天线的旋转角；λ：测试使用的电波波长；L0：发射天线和转台中心的距离；di：第i个单元的位置；d0：转台中心到阵列的垂线与阵列相交的位置；Δ：转台中心到阵列所作垂线的距离；4)利用光程差校正算法得到阵列天线相位总体一致性的均方根误差最小时参数d0、Δ及θ0的值；5)计算各单元修正参数后的相位方向图及各单元的相位均方根误差。