[发明专利]检测及校正装置有效

专利信息
申请号: 201610554421.8 申请日: 2016-07-14
公开(公告)号: CN105931592B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 詹欣哲;林勇旭 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/32
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;田景宜
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种检测及校正装置,其用以检测多条发光二极管串,该些发光二极管串的一端用以接收输入电压。上述检测及校正装置包含上拉单元、检测单元及校正单元。上拉单元用以可切换地耦接于该些发光二极管串。检测单元用以检测该些发光二极管串的反馈电压,根据该些反馈电压以输出控制信号。校正单元用以接收控制信号以控制上拉单元,俾使上拉单元进行切换以耦接于特定发光二极管串,并上拉特定发光二极管串的另一端的电压。
搜索关键词: 检测 校正 装置
【主权项】:
1.一种检测及校正装置,用以检测多条发光二极管串,其特征在于,该些发光二极管串的一端用以接收一输入电压,包含:一上拉单元,用以可切换地耦接于该些发光二极管串;一检测单元,用以检测该些发光二极管串的反馈电压,根据该些反馈电压以输出一控制信号;该检测单元包含:一短路检测器,用以检测并比较该些反馈电压与一短路参考电压,以输出一检测信号;以及一判断器,用以根据该检测信号以输出该控制信号;以及一校正单元,用以接收该控制信号以控制该上拉单元,俾使该上拉单元进行切换以耦接于一特定发光二极管串,并上拉该特定发光二极管串的另一端的电压;其中,该判断器包含:一多工器,用以接收该检测信号与该些反馈电压,并根据该检测信号以输出该些反馈电压的一特定电压;以及多个比较器,用以接收并比较该特定电压与一输入电压,以输出该控制信号。
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