[发明专利]检测及校正装置

摘要

本发明公开了一种检测及校正装置，其用以检测多条发光二极管串，该些发光二极管串的一端用以接收输入电压。上述检测及校正装置包含上拉单元、检测单元及校正单元。上拉单元用以可切换地耦接于该些发光二极管串。检测单元用以检测该些发光二极管串的反馈电压，根据该些反馈电压以输出控制信号。校正单元用以接收控制信号以控制上拉单元，俾使上拉单元进行切换以耦接于特定发光二极管串，并上拉特定发光二极管串的另一端的电压。

主权项

1.一种检测及校正装置，用以检测多条发光二极管串，其特征在于，该些发光二极管串的一端用以接收一输入电压，包含：一上拉单元，用以可切换地耦接于该些发光二极管串；一检测单元，用以检测该些发光二极管串的反馈电压，根据该些反馈电压以输出一控制信号；该检测单元包含：一短路检测器，用以检测并比较该些反馈电压与一短路参考电压，以输出一检测信号；以及一判断器，用以根据该检测信号以输出该控制信号；以及一校正单元，用以接收该控制信号以控制该上拉单元，俾使该上拉单元进行切换以耦接于一特定发光二极管串，并上拉该特定发光二极管串的另一端的电压；其中，该判断器包含：一多工器，用以接收该检测信号与该些反馈电压，并根据该检测信号以输出该些反馈电压的一特定电压；以及多个比较器，用以接收并比较该特定电压与一输入电压，以输出该控制信号。