[发明专利]一种X射线荧光测定连铸渣中氟元素的方法在审
申请号: | 201610556452.7 | 申请日: | 2016-07-14 |
公开(公告)号: | CN106053506A | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 张鲁宁 | 申请(专利权)人: | 本钢板材股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙) 21229 | 代理人: | 陈福昌 |
地址: | 117000 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种X射线荧光测定连铸渣中氟元素的方法,主要是解决现有测定方法不准确的问题。本发明提供一种X射线荧光测定连铸渣中氟元素的方法,具体为:样品制备,标准样品压片,制作工作曲线,制备测定样品压片,采用X射线荧光仪中测定强度,代入制作的工作曲线中得到氟元素含量。本发明所使用的X射线荧光压片法对氟元素进行直接测定,不用考虑样品中其他成分的影响,其结果稳定准确,对工具设备无损伤。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 荧光 测定 连铸渣中氟 元素 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线荧光测定连铸渣中氟元素的方法,具体实现步骤如下:(1)样品制备:压片前对五种含氟成分不同、等量的样品分别进行粉碎混匀。(2)压片:先用酒精棉球对压片塑料圈擦拭去灰,然后将所述步骤(1)粉碎混匀后的各样品放入所述压片塑料圈中,铺平,放在压片机中,并设置压制压力为20MPA进行压片,20秒后取出,得到标准样品压片,清理压片表面,为测量做准备;(3)荧光测定:将X射线荧光仪置于真空环境下,并设置测定条件,建立测量方法,对步骤(2)制得的标准样品压片测量其强度,绘制工作曲线;所述设置的测定条件为:
(4)另外再取与步骤(2)所用步骤(1)的样品质量、品种均相同的样品作为测定样品,分别粉碎混匀后置于20‑22℃环境中。(5)按照所述步骤(2)的压片步骤对测定样品进行压片,得到测定样品压片;(6)将所述步骤(5)制备的测定样品压片后放入X射线荧光仪中,X射线荧光仪的测定条件与步骤(3)的测定条件相同,测定强度,代入所述步骤(3)的标准样品压片的工作曲线,得到测量结果。
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