[发明专利]一种元件脚测量机及其测量工艺

摘要

本发明公开了一种元件脚测量机及其测量工艺，包括上层料带、机架下测量机构、上测量机构、产品搬运机构、出料带、治具升降机构及下层料带，其中，上层料带及下层料带分别设置于机架的上方及下方；治具升降机构包括前治具升降机构及后治具升降机构，治具带动产品经上层料带向后运输至下测量机构及上测量机构处进行元件脚及元件测量；产品搬运机构设置于上层料带的后端上方，产品搬运机构将测量后的产品搬运至设置于上层料带侧部的出料带上，经出料带运出，空治具流入后升降机构内，后升降机构带动治具下降，并推入下层料带内，治具随下层料带回流至前升降机构，经前升降机构带动上升，并滑入上层料带内，循环流动，以将产品连续自动输送。

主权项

1.一种元件脚测量机，其特征在于：包括上层料带（1）、机架（3）、下测量机构（6）、上测量机构（7）、产品搬运机构（8）、出料带（10）、治具升降机构及下层料带（11），其中，上述上层料带（1）及下层料带（11）分别设置于机架（3）的上方及下方，并穿过机架（3）向两侧延伸，且运动方向相反；上述治具升降机构包括分别设置于上层料带（1）及下层料带（11）前端和尾端的前升降机构（12）及后升降机构（9），治具（A）带动产品（B）经上层料带（1）向后运输至设置于机架（3）下部及上部的下测量机构（6）及上测量机构（7）处进行元件脚及元件测量；上述产品搬运机构（8）设置于上层料带（1）的后端上方，产品搬运机构（8）将测量后的产品搬运至设置于上层料带（1）侧部的出料带（11）上，经出料带（11）运出，空治具（A）经上层料带（1）流入后升降机构（9）内，后升降机构（9）带动治具（A）下降，并推入下层料带（11）内，治具（A）随下层料带（11）回流至前升降机构（12），经前升降机构（12）带动上升，并滑入上层料带（1）内，循环流动，以将产品（B）连续自动输送；上述上层料带（1）的上设置有前定位机构（2）及后定位机构（5），其中，前定位机构（2）设置于上层料带（1）的下部，并位于上层料带（1）前端位置，治具（A）放置于上层料带（1）上时，经上层料带（1）的两同步带支撑，治具（A）经上层料带（1）带动至前定位机构（2）处时，前定位机构（2）从上层料带（1）两同步带之间的间隙由下向上插入治具（A）内，并将治具（A）顶起，使其离开上层料带（1），悬空于上层料带（1）上方，以便上层料带（1）继续保持运动，且前定位机构（2）从与治具（A）运动方向相反的方向阻挡治具（A），以便放置产品（B）于治具（A）上；上述后定位机构（5）设置于上层料带（1）上方，并位于机架（3）上的罩体（4）内，治具（A）装载产品（B）后，经上层料带（1）运送至后定位机构（5）处，后定位机构（5）从上层料带（1）的两同步带之间的间隙由下向上插入治具（A）内，将治具（A）顶起，使其离开上层料带（1），悬空于上层料带（1）上方，以使上层料带（1）继续保持运动，且后定位机构（5）从与治具（A）运动方向相反的方向阻挡治具（A），以便下测量机构（6）及上测量机构（7）分别进行元件脚测量及元件测量。