[发明专利]元件反件检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 201610561857.X 申请日: 2016-07-13
公开(公告)号: CN106251333B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 李红匣 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 冯右明
地址: 510530 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种元件反件检测方法和系统,其中方法包括以下步骤:获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像;获取所述极性区域图像中像素值处于预选的像素值区间内的像素点的第一数量,将所述第一数量与预存的极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第一参考数量进行比较;获取所述极性对称区域图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二数量,将所述第二数量与所述极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二参考数量进行比较;若所述第一数量与所述第一参考数量的差值大于预设的第一差值阈值,且所述第二数量与所述第二参考数量的差值小于预设的第二差值阈值,判定所述待测元件反件。
搜索关键词: 元件 检测 方法 系统
【主权项】:
1.一种元件反件检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像;其中,极性区域为安装正确时所述待测元件的电极在所述电路板上的区域,极性对称区域为反件时所述电极在电路板上的区域;获取所述极性区域图像中像素值处于预选的像素值区间内的像素点的第一数量,将所述第一数量与预存的极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第一参考数量进行比较;获取所述极性对称区域图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二数量,将所述第二数量与所述极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二参考数量进行比较;若所述第一数量与所述第一参考数量的差值大于预设的第一差值阈值,且所述第二数量与所述第二参考数量的差值小于预设的第二差值阈值,判定所述待测元件反件。
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