[发明专利]印刷电路板离子迁移测试系统在审

专利信息
申请号: 201610564775.0 申请日: 2016-07-19
公开(公告)号: CN106199195A 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 牛明慧 申请(专利权)人: 牛明慧
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200434 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种印刷电路板离子迁移测试系统,包括直流电源、静电计、多通道开关系统、多通道高速电压采集系统、中转连接器、系统控制与数据分析上位机软件。系统采用电流法测量印刷电路板的绝缘电阻以评估离子迁移的情况。本发明的特征在于:所述直流电源通过中转连接器与被测试点相连,取样电阻和保护电阻串联在测试通道回路中,静电计通过多通道开关系统依次串联进测试通道,高精度测量通道内的电流,多通道高速电压采集系统与取样电阻相连,实时监测各个通道的漏电流,上位机软件控制直流电源、静电计、多通道开关系统和多通道高速电压采集系统的工作时序,进行数据分析并给出判定结果。本发明的测试系统结构简洁紧凑,使用方便,测试精度高,测试速度快,提高了印刷电路板离子迁移测试的自动化程度,也提高了印刷电路板离子迁移测试结果的可靠性。
搜索关键词: 印刷 电路板 离子 迁移 测试 系统
【主权项】:
一种印刷电路板离子迁移测试系统,包括直流电源、静电计、多通道开关系统,多通道高速电压采集系统、中转连接器、系统控制与数据分析上位机软件。
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