[发明专利]一种高精度外径千分尺校检装置

摘要

本发明公开了一种高精度外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、标准量块、上母线校准机构和侧母线校准机构，其中：检测平台用于对检测中的千分尺的尺架进行支撑，第一升降托架和第二升降托架分别用于对千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并可进行升降动作；标准量块用于作为校准参照，上母线校准机构用于对千分尺中测砧、测微螺杆的平行度进行校检，确保二者处于同一水平面内；侧母线校准机构用于对校准标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。本发明通过上母线校准机构和侧母线校准机构相互配合可以快速找到测量面平行度，且测量数据准确可靠。

主权项

1.一种高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，包括：检测平台(1)、第一升降托架(2)、第二升降托架(3)、标准量块(4)、上母线校准机构和侧母线校准机构，其中：第一升降托架(2)、第二升降托架(3)相对布置检测平台(1)上；标准测量块位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间；上母线校准机构包括至少一个第一千分表(5)和至少一个第二千分表(6)，第一千分表(5)、第二千分表(6)均包括表头和测量杆，第一千分表(5)和第二千分表(6)均位于标准测量块的上方并分别布置在标准量块(4)的两端，且第一千分表(5)、第二千分表(6)中的测量杆均分别垂直于水平面；侧母线校准机构包括至少一个第三千分表(7)和至少一个第四千分表(8)，第三千分表(7)、第四千分表(8)均包括表头和测量杆，第三千分表(7)和第四千分表(8)均位于标准测量块的一侧，且第三千分表(7)、第四千分表(8)中的测量杆分别平行于水平面并与标准量块(4)的侧表面抵靠。