[发明专利]一种外径千分尺校检方法

摘要

本发明公开了一种外径千分尺校检方法，包括：S1、搭建检测架，并使该检测架包括检测平台、第一升降杆、第二升降杆、以及设置在第一升降杆和第二升降杆上的第一托架和第二托架；S2、将外径千分尺中的尺架与检测平台固定，将外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别放置在第一托架和第二托架上；S3、放置标准量块，并使其位于测砧和测微螺杆之间；S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致。

主权项

1.一种外径千分尺校检方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、搭建一个检测架，并使该检测架包括检测平台和相对布置在检测平台上的第一升降杆和第二升降杆，并在第一升降杆和第二升降杆的顶端分别设置第一托架和第二托架；S2、将待检测的外径千分尺放置在S1中的检测平台上，并使该外径千分尺中的尺架与检测平台固定，使该外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别位于第一托架和第二托架上；S3、在S1中搭建的检测平台上放置一个标准量块，并使该标准量块位于测砧和测微螺杆之间；S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格；S4具体包括以下步骤：在测砧和测微螺杆的上方各设置一个第一千分表，并使两个第一千分表的测量杆分别与测砧和测微螺杆的上表面抵靠；根据两个第一千分表判断测砧和测微螺杆是否处于同一水平高度；当测砧和测微螺杆所处水平高度不同时 ，调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5具体包括以下步骤：在标准量块的一侧且靠近其两端的位置分别设置一个第二千分表，并使第二千分表之间的连线分别平行于测砧和测微螺杆，同时使两个第二千分表的测量杆分别与标准量块的侧表面抵靠；根据两个第二千分表判断标准量块与测砧和测微螺杆是否处于同一直线上；当标准量块与测砧和测微螺杆不处于同一直线时，调整标准量块的位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上。