[发明专利]32通道低频RFID晶圆测试系统及方法在审
| 申请号： | 201610566451.0 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106019125A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 景为平;都平;景一欧 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人： | 吴静安 |
| 地址： | 226019 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的32通道低频RFID晶圆测试系统，包括32通道垂直探针卡，与被测芯片物理接触，获得已调信号；专用测试机模块，对已调信号进行解调，还原被测芯片包含的编码信息，判断被测芯片功能是否正确，将结果数据发送给上位机；上位机，接收所述结果数据进行显示、储存，并将数据与指令发送到探针台；探针台，根据所述指令进行测试操作，完成机械移动，并根据所述结果数据完成二进制值的写入，直至测试完成，获得整个晶圆map图。有益效果：实现了一个操作方便、简单高效、性能稳定的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 32 通道 低频 rfid 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种32通道低频RFID晶圆测试系统，其特征在于，包括32通道垂直探针卡，与被测芯片物理接触，获得已调信号；专用测试机模块，模块内的微控制器通过锁相环资源产生载波测试向量，并对已调信号进行解调，还原被测芯片包含的编码信息，与存入微控制器的预期响应进行比较，判断被测芯片功能是否正确，并将判断结果标记到对应通道数，将结果数据发送给上位机；上位机，接收所述结果数据进行显示、储存，并将数据与指令发送到探针台；探针台，根据所述指令进行测试操作，完成机械移动，并根据所述结果数据完成二进制值的写入，直至测试完成，获得整个晶圆map图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通大学，未经南通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610566451.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于汽车空调系统的管路装置
- 下一篇：一种隔震连接件
