[发明专利]利用磁场特征的定位修正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610566768.4 申请日: 2016-07-18
公开(公告)号: CN106289241B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 张弛;吕明;王子亮;徐枫 申请(专利权)人: 北京方位捷讯科技有限公司
主分类号: G01C21/08 分类号: G01C21/08
代理公司: 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 代理人: 赵永辉
地址: 100053 北京市宣武*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明利用磁场特征的定位修正方法及装置,方法为:获取室内空间的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,获取目标移动预定时间后当前定位位置的垂直向磁场强度和水平向磁场强度;根据室内空间的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,计算第一特征指标值,并分析得到第一极值点及其对应的空间位置,记录成特征点;获取当前定位位置,根据当前定位位置的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,计算第二特征指标值;当第二特征指标值取到第一极值点,若当前定位位置的阈值范围内存在特征点,对当前定位位置进行修正。本发明利用磁场特征的定位修正方法及装置,采用极值点及其对应空间位置作为特征点,有效减小磁强计测量位置误差的影响。
搜索关键词: 利用 磁场 特征 定位 修正 方法 装置
【主权项】:
1.利用磁场特征的定位修正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,获取室内空间的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,获取目标移动预定时间后当前定位位置的垂直向磁场强度和水平向磁场强度;步骤S2,根据所述室内空间的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,计算第一特征指标值,并根据所述第一特征指标值,分析得到第一极值点及其对应的空间位置,将所述第一极值点及其对应的空间位置记录成特征点;步骤S3,获取当前定位位置,根据所述当前定位位置的垂直向磁场强度和水平向磁场强度,计算第二特征指标值;所述第一特征指标值和第二特征指标值为垂直向磁场强度和水平向磁场强度之差;步骤S4,根据所述特征点,当所述第二特征指标值取到所述第一极值点,将所述当前定位位置与所述特征点进行比对,若所述当前定位位置的阈值范围内存在所述特征点,根据所述特征点中第一极值点对应的空间位置对所述当前定位位置进行修正,反之,当所述第二特征指标值没取到第一极值点,修正结果为对所述当前定位位置不进行位置修正。
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