[发明专利]指纹特征匹配方法及装置在审

专利信息
申请号: 201610566820.6 申请日: 2016-07-18
公开(公告)号: CN106060779A 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 张弛;吕明;汪冬燕;熊兴玉 申请(专利权)人: 北京方位捷讯科技有限公司
主分类号: H04W4/02 分类号: H04W4/02;H04W4/04;G06F17/30
代理公司: 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 代理人: 赵永辉
地址: 100053 北京市宣武*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种指纹特征匹配方法及装置。本发明的指纹特征匹配方法包括:获取待测点处采集到的接入点标识、信号强度;在指纹特征库中匹配与待测点具有相同接入点标识的参考点,若匹配到的参考点的数量满足设定条件,将匹配到的参考点作为第一序列;如果不满足,去掉待测点中的信号强度最弱的一个接入点标识,重新进行匹配,直至满足设定条件;分别计算第一序列中所有参考点与待测点的信号强度的余弦相似度,按照余弦相似度由大到小的顺序对第一序列中所有参考点进行排序,得到第二序列;选取第二序列中排序靠前的K个参考点用于后续定位计算。本发明的指纹特征匹配方法及装置,提高了指纹特征库匹配方法的计算效率和匹配精度。
搜索关键词: 指纹 特征 匹配 方法 装置
【主权项】:
一种指纹特征匹配方法,其特征在于,包括:获取在待测点处采集到的数据,所述数据包括:至少一个接入点标识、每个接入点标识对应的信号强度;根据在待测点处采集到的接入点标识,在指纹特征库中匹配具有相同接入点标识的参考点,判断匹配到的参考点的数量是否满足设定条件;如果满足,将匹配到的参考点作为第一序列;如果不满足,去掉所述待测点中的信号强度最弱的一个接入点标识,重新进行匹配,直至满足设定条件,将匹配到的参考点作为第一序列;分别计算第一序列中所有参考点的信号强度与所述待测点处采集到的信号强度的余弦相似度,按照所述余弦相似度由大到小的顺序对第一序列中所有参考点进行排序,得到第二序列;选取第二序列中排序靠前的K个参考点用于后续定位计算。
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