[发明专利]指纹特征定位方法及装置有效
| 申请号： | 201610567313.4 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106199500B | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 吕明;汪冬燕;牟新利;张弛 | 申请（专利权）人： | 北京方位捷讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S1/08 | 分类号： | G01S1/08 |
| 代理公司： | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人： | 赵永辉 |
| 地址： | 100053 北京市宣武*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于无线定位技术领域，提供了一种指纹特征定位方法及装置。本发明的指纹特征定位方法包括：在待测点处采集接入点的相关信息作为待测点的数据，待测点的数据包括：至少一个接入点标识、每个接入点标识对应的信号强度；通过匹配所述待测点的数据与指纹特征库中的参考点的数据，选取多个参考点用于估算所述待测点的坐标；分别计算选取的每个参考点的信号强度与所述待测点的信号强度的余弦相似度，以余弦相似度作为对应参考点的权值，对所有选取的参考点的坐标进行加权平均，得到待测点的坐标；采用迭代法对待测点的坐标进行优化，直到满足收敛条件。本发明的指纹特征定位方法，在不增加指纹特征库信息量的前提下提高了定位精度。 | ||
| 搜索关键词： | 指纹 特征 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种指纹特征定位方法，其特征在于，包括：在待测点处采集接入点的相关信息作为待测点的数据，所述待测点的数据包括：至少一个接入点标识、每个接入点标识对应的信号强度；通过匹配所述待测点的数据与指纹特征库中的参考点的数据，选取多个参考点用于估算所述待测点的坐标，所述参考点的数据包括：接入点标识、每个接入点标识对应的信号强度、参考点的坐标；分别计算选取的每个参考点的信号强度与所述待测点的信号强度的余弦相似度，以余弦相似度作为对应参考点的权值，对所有选取的参考点的坐标进行加权平均，得到所述待测点的坐标；采用迭代法对所述待测点的坐标进行优化，直到满足收敛条件；所述通过匹配所述待测点的数据与指纹特征库中的参考点的数据，选取多个参考点用于估算所述待测点的坐标，包括：在指纹特征库中查找与所述待测点有相同接入点标识的参考点，所述参考点用于待测点的坐标估算；若在所述指纹特征库中没有查找到与所述待测点有到相同接入点标识的参考点，去掉待所述测点中信号强度最弱的接入点对应的接入点标识，直到在所述指纹特征库中查找到与所述待测点剩下的接入点标识相同的参考点，所述参考点用于待测点的坐标估算。
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