[发明专利]集成电路结构在审
申请号: | 201610567623.6 | 申请日: | 2016-07-19 |
公开(公告)号: | CN107632656A | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 陈启彬 | 申请(专利权)人: | 扬智科技股份有限公司 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 胡林岭 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路结构。此集成电路结构包括参考电路以及至少两个核心电路。参考电路产生参考电流。至少两个核心电路耦接参考电路以接收此参考电流。每个核心电路包括电流校准电路。电流校准电路依据所述参考电流产生位于所述核心电路中的偏压电流。核心电路使用所述偏压电流来取代所述参考电流。在所述集成电路结构于测试阶段时,所述参考电路透过所述集成电路结构的接脚电性连接至外部阻抗来产生所述参考电流,且在所述测试阶段后,断开所述参考电路与所述集成电路结构的所述接脚之间的连接。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 结构 | ||
【主权项】:
一种集成电路结构,其特征在于,包括:参考电路,产生参考电流;以及至少两个核心电路,耦接所述参考电路以接收所述参考电流,其中所述核心电路包括:电流校准电路,依据所述参考电流产生位于所述核心电路中的偏压电流,所述核心电路使用所述偏压电流来取代所述参考电流,其中在所述集成电路结构于测试阶段时,所述参考电路透过所述集成电路结构的接脚电性连接至外部阻抗来产生所述参考电流,且在所述测试阶段后,断开所述参考电路与所述集成电路结构的所述接脚之间的连接。
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