[发明专利]非接触式智能卡整套兼容性测试系统在审

专利信息
申请号: 201610569451.6 申请日: 2016-07-19
公开(公告)号: CN107632248A 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: 张修远 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统,包括一非接触式智能卡兼容测试仪、一测试PC、一非接触式智能卡读卡器。在测试脚本的控制下,非接触式智能卡按照指令要求,进行上下左右前后的各项移动,同时控制非接触式智能卡读卡器进行应用指令的收发,根据预先编写的脚本对当前非接触式智能卡片状态进行校验来确认是否通过测试。本发明能够实现整个测试过程全自动化,且有极大灵活性和可扩展性。
搜索关键词: 接触 智能卡 整套 兼容性 测试 系统
【主权项】:
一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统,其特征在于,包括:一非接触式智能卡兼容性测试仪,具有X,Y,Z三根完全独立运动的轴,根据需要进行上下、左右或前后的单轴移动,在控制下进行双轴或三轴协同运动,完成一个轨迹运动的过程;被测非接触式智能卡片固定在Z轴末端的夹爪上;一非接触智能卡读卡器,设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上,用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯,读取被测非接触式智能卡的数据;一测试PC,分别与所述非接触式智能卡兼容性测试仪和非接触智能卡读卡器相连接,运行测试上位机软件,通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本,控制被测非接触式智能卡按照指令要求,进行不同轨迹移动,同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发,根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验,以确认是否通过测试。
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