[发明专利]一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种金属元件接触电阻的测试装置及测试方法，测试装置包插拔公头、插拔母座及驱动机构。插拔公头设有一个以上探针。一个以上探针并列间隔设置，探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置。插拔母座用于设有并列间隔设置的一个以上待测金属元件。待测金属元件与探针相应设置。待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源。驱动机构用于驱动插拔公头与插拔母座之间实现插拔操作。插拔公头插入插拔母座时，探针与待测金属元件相接触。驱动机构驱动插拔公头来回往复插入到插拔母座过程中，待测金属元件随着探针插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置能够测试记录分析待测金属元件逐渐老化过程中的接触电阻的变化情况。

主权项

1.一种金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，包括：插拔公头，所述插拔公头设有一个以上探针，一个以上所述探针并列间隔设置，所述探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置；插拔母座，所述插拔母座用于装设有一个以上待测金属元件，一个以上所述待测金属元件并列间隔设置，一个以上所述待测金属元件与一个以上所述探针一一相应设置，所述待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源；驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头与所述插拔母座之间实现插拔操作，所述插拔公头插入所述插拔母座时，所述探针与所述待测金属元件相接触；及支撑座，所述支撑座设有滑轨，所述插拔母座固定设置在所述支撑座上，所述插拔公头设有与所述滑轨相配合的滑动件，所述插拔公头通过所述滑动件装设在所述滑轨上，所述驱动机构与所述插拔公头传动相连，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头沿着所述滑轨来回移动。