[发明专利]一种检测苯醚甲环唑的分子印迹电化学传感分析方法有效

专利信息
申请号: 201610571444.X 申请日: 2016-07-18
公开(公告)号: CN106248768B 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 刘冰;何静;方国臻;王硕 申请(专利权)人: 天津科技大学
主分类号: G01N27/48 分类号: G01N27/48;G01N27/333
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 李明卓
地址: 300222 天*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种检测苯醚甲环唑的分子印迹电化学传感分析方法,包括如下步骤,1)电极修饰;2)检测还原峰电流值:将步骤1)修饰好的电极浸入K3[Fe(CN)6]溶液中,以饱和甘汞电极作为参比电极、铂电极作为对电极,向其中加入苯醚甲环唑标准溶液,用差分脉冲伏安法测定还原峰电流值。用相对电流变化(ΔI/I0)分析还原峰电流值与苯醚甲环唑浓度之间的关系。使用本发明建立的分子印迹电化学方法对待测物进行检测。本发明克服传统检测苯醚甲环唑方法中所用的大型仪器检测时间长,仪器昂贵,并且传统的合成分子印迹方法耗时等缺点。
搜索关键词: 一种 检测 苯醚甲环唑 分子 印迹 电化学 传感 分析 方法
【主权项】:
1.一种检测苯醚甲环唑的分子印迹电化学传感分析方法,其特征在于:包括如下步骤,1)电极修饰:将含有苯醚甲环唑,对氨基苯硫酚,四丁基高氯酸铵的甲醇溶液作为聚合液,将修饰有AuNPs的电极浸入聚合液中,以饱和甘汞电极作为参比电极、铂电极作为对电极,循环伏安扫描;聚合后的电极浸入甲醇/醋酸溶液,冲洗吹干备用;具体步骤为:(1)纳米金颗粒在玻碳电极表面的电沉积:将直径为4mm的玻碳电极GCE依次在粒径为0.3μm和0.5μm的氧化铝粉上抛光打磨洗净冲干;将获得的GCE电极浸没于含有2.43mmol L‑1HAuCl4和0.5mol L‑1的H2SO4溶液中,以饱和氯化钾甘汞电极作为参比电极,铂丝电极为对电极,采用恒电位技术进行AuNPs的电沉积,设定恒定电位为‑0.2V,沉积时间为200s,取出后用去离子水冲洗几遍,氮气吹干,得到用AuNPs修饰的GCE电极AuNPs‑GCE;(2)苯醚甲环唑和对氨基苯硫酚的自组装:电极洗净冲干后,浸入含有30mmol L‑1的对氨基苯硫酚(p‑ATP)的甲醇溶液中过夜组装,取出后用甲醇和去离子水依次小心清洗电极表面,获得p‑ATP‑AuNPs‑GCE;将p‑ATP‑AuNPs‑GCE浸入含有10mmol L‑1的苯醚甲环唑(DFZ)甲醇溶液中4h,获得DFZ‑pATP‑AuNPs‑GCE;取出后的电极用乙醇和去离子水依次清洗,用氮气吹干备用;(3)聚合分子印迹聚合物膜:将含有10mmol L‑1苯醚甲环唑,60mmol L‑1对氨基苯硫酚,5mmol L‑1四丁基高氯酸铵的甲醇溶液通氮除氧作为聚合液,以饱和氯化钾甘汞电极电极作为参比电极,铂丝电极为对电极,将DFZ‑pATP‑AuNPs‑GCE浸入聚合液中,以50mVs‑1的扫描速度,在‑0.2V‑+1.2V的电位范围内进行循环伏安扫描5圈;(4)去除分子印迹膜中的苯醚甲环唑分子:将电聚合有聚合物膜的电极浸入30mL甲醇/醋酸溶液15min,去除在聚合物膜中固定的模板分子苯醚甲环唑,分子印迹聚合物修饰的电极MIPs‑AuNPs‑GCE电极表面用氮气吹干备用,所述甲醇/醋酸溶液的体积比是8:2;2)检测还原峰电流值:将步骤1)修饰好的电极浸入K3[Fe(CN)6]溶液中,以饱和甘汞电极作为参比电极、铂电极作为对电极,向K3[Fe(CN)6]溶液中加入苯醚甲环唑标准溶液,用差分脉冲伏安法测定还原峰电流值;用相对电流变化分析还原峰电流值与苯醚甲环唑浓度之间的关系;所述K3[Fe(CN)6]溶液浓度是1mmol L‑1;将修饰电极浸入K3[Fe(CN)6]溶液中且加入20μL的1mmol L‑1苯醚甲环唑标品溶液并进行6min吸附,在‑0.2V‑+0.6V的电位范围下进行差分脉冲伏安法扫描。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津科技大学,未经天津科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610571444.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top