[发明专利]经时间校正的时域反射计在审
| 申请号： | 201610573171.2 | 申请日： | 2016-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN106370936A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | J.P.彼得斯维姆 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 徐红燕,张涛 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及经时间校正的时域反射计。一种测试和测量仪器，包括输入，被配置成从待测设备接收反射和/或透射脉冲信号；基准时钟输入，被配置成接收基准信号，所述基准信号与反射脉冲信号异步；相位基准模块，被配置成采集基准信号的样本；采样模块，被配置成采集反射脉冲信号的样本；以及控制器，被配置成基于所采集的基准信号的样本和所采集的反射脉冲信号的样本来确定待测设备的散射参数。 | ||
| 搜索关键词： | 时间 校正 时域 反射 | ||
【主权项】：
一种测试和测量仪器，包括：输入，被配置成从待测设备接收反射或透射脉冲信号；基准时钟输入，被配置成接收基准信号，所述基准信号与所述反射脉冲信号异步；相位基准模块，被配置成采集所述基准信号的样本；采样模块，被配置成采集所述反射脉冲信号的样本；以及控制器，被配置成基于所采集的所述基准信号的样本以及所采集的所述反射脉冲信号的样本来确定所述待测设备的散射参数。
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